
Контурограф-профилометр CONTURIX FX
КОНТРОЛЬ КОНТУРА И ШЕРОХОВАТОСТИ ЗА ОДИН ПРОХОД
Серия контурографов-профилометров CONTURIX FX — доступное, экономически эффективное решение, обеспечивающее контроль шероховатости, волнистости и контура за одну операцию, благодаря применению универсального датчика. Серия обладает высокой точностью и широким диапазоном измерений.
Ключевые особенности
- Контроль контура и шероховатости — возможность проведения измерений шероховатости, волнистости и контура за одну операцию, без необходимости переключения режима и смены датчика.
- Пневматическая антивибрационная система — рабочий стол прибора оснащается напольной антивибрационной системой, которая используется для высокоточных измерений.
- Направляющие, не требующие обслуживания — приборы CONTURIX FX оснащаются приводами, в которых в качестве направляющих используется модифицированный композитный материал, обладающий превосходными характеристиками для длительного использования.
- Режим быстрого перемещения — использование высокоскоростных передач для привода и модуля колонны значительно увеличивает скорость и эффективность измерений.
- Функциональный пульт управления — пульт управления оснащен функциональными клавишами наиболее часто используемых команд для экономии времени.
- Малая установочная площадь и эргономичность — прибор интегрирован с эргономичным рабочим столом оператора, что сокращает установочную площадь. Конструкция стола имеет встроенный кронштейн для монитора и нишу для системного блока.
Технические характеристики
| Модель | Параметр | CONTURIX FХ8 | CONTURIX FХ10 |
| Колонна | Макс. диапазон измерений по оси Z | 0-620 мм | 0-620 мм |
| Привод | Макс. диапазон измерений по оси X | 0-220 мм | 0-220 мм |
| Детектор / Погрешность измерений | Погрешность измерений | ±(0,8+2L/100) мкм¹⁾ | ±(0,8+1,5L/100) мкм¹⁾ |
| Прямолинейность | 0,3 мкм/100 мм |
| Диапазон отклонений по оси Z1 | ±10 мм |
| Z1 Погрешность измерений контура | ±(0,8+|0,12H|) мкм²⁾ | ±(0,5+|0,08H|) мкм²⁾ |
| Z1 Погрешность измерений шероховатости | ±(8 нм+3,5%) | ±(4 нм+2,5%) |
| Повторяемость 1σ | 2 нм | 1 нм |
| Погрешность измерений | Радиуса | ±(1,2+R/12) мкм³⁾ |
| Угла | ±1 |
¹⁾ L — измеряемая длина в мм
²⁾ H — расстояние отклонения консоли со щупом от горизонтального положения
³⁾ R — измеряемый радиус в мм